让质地分析不只是触觉-C-cell 孔隙(成像)分析仪

质构仪在质地分析的领域已经占领了很大的一块区域，尤其在烘焙行业中，包含全质构分析（TPA）以及各种国际标准（AACCI, AIB）已经有明确的实验方法来定义质构，然而面包的质地参数却并不只是质构测试能表达的，例如吐司的绵密、拉丝等特性在质构中就没有比较完整的定义，因此我们就可以利用拍摄面包切片图像并分析面包的孔隙与质地纹理，来进一步分析烘焙产品的质地。

　　C-cell孔隙(成像)分析仪是一种以高分辨率拍摄产品切片，并利用影像、光影、色差来进行切面数据分析的仪器，可以得到样品孔隙大小形状分布、粗糙度、均匀度、對比度等外观参数。 C-cell目前已经通过AACCi Method   10-18.01，被认证是观测面包品质的一个重要的测试，并可以应用于工业领域，包含面包、蛋糕、披萨、松饼等食品领域，用来客观分析烘焙产品的特性。